化学气相沉积技术的使用
生产晶须:
晶须属于一种以为发育的单晶体,它在符合材料范畴中有着很大的作用,能够用于生产一些新型复合材料。 化学气相沉积法在生产晶须时使用的是金属卤化物的氢还原性质。化学气相沉积法不但能制备出各类金属晶须,同时也能生产出化合物晶须,比如氧化铝、金刚砂、碳化钛晶须等等。
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等离子刻蚀机简介
等离子刻蚀机,又叫等离子蚀刻机、等离子平面刻蚀机、等离子体刻蚀机、等离子表面处理仪、等离子清洗系统等。等离子刻蚀,是干法刻蚀中比较常见的一种形式,其原理是暴露在电子区域的气体形成等离子体,由此产生的电离气体和释放高能电子组成的气体,从而形成了等离子或离子,气相化学沉积生产厂家,电离气体原子通过电场加速时,会释放足够的力量与表面驱逐力紧紧粘合材料或蚀刻表面。某种程度来讲,等离子清洗实质上是等离子体刻蚀的一种较轻微的情况。进行干式蚀刻工艺的设备包括反应室、电源、真空部分。工件送入被真空泵抽空的反应室。气体被导入并与等离子体进行交换。等离子体在工件表面发生反应,反应的挥发性副产物被真空泵抽走。等离子体刻蚀工艺实际上便是一种反应性等离子工艺。近期的发展是在反应室的内部安装成搁架形式,这种设计的是富有弹性的,用户可以移去架子来配置合适的等离子体的蚀刻方法:反应性等离子体(RIE),顺流等离子体(downstream),直接等离子体(direction plasma)。
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ICP刻蚀机的检测技术
预报式检测
随着主流半导体工艺技术由0.18 μm 逐渐转移到0.13 μm工艺,以及较新的90 nm 工艺成功研发及投入使用。半导体器件的特征尺寸进一步减小,气相化学沉积多少钱,栅氧层的厚度越来越薄。90 nm工艺中,栅氧层的厚度仅为1.2 nm。如果等离子体刻蚀工艺控制不好, 则非常容易出现栅氧层的损伤;同时, 所使用的晶片尺寸增至300mm, 暴露在等离子体轰击下的被刻蚀面积不断缩小,所检测到的终点信号的强度下降,信号的信噪比降低。所有这些因素都对终点检测技术本身及其测量结果的可靠性提出了更加严格的要求。在0.18 μm工艺时,气相化学沉积厂家,使用单一的OES检测手段就可满足工艺需求;进入0.13 μm 工艺后,就必须结合使用OES 及IEP 两种检测手段。由于IEP技术可以在刻蚀终点到达之前进行预报,因而被称为预报式终点检测技术。
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